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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：梅特勒METTLER XPR205DU/AC分析天平

產(chǎn)品型號(hào)：XPR204/AC

更新時(shí)間：2025-06-09

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

專業(yè)為中國(guó)區(qū)用戶提供梅特勒METTLER XPR205DU/AC分析天平儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)

產(chǎn)品特性Product characteristics

    專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由堅(jiān)JET和融YOO兩位技術(shù)工程師于2011年共同創(chuàng)立，志在破舊立新！*測(cè)試測(cè)量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務(wù)銷售，不專業(yè)做售前測(cè)試方案，不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)，專業(yè)為中國(guó)區(qū)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

梅特勒METTLER XPR205DU/AC分析天平規(guī)格

梅特勒METTLER XPR205DU/AC分析天平
每次均得有效結(jié)果.
XPR分析天平、81/220 g量程、0.01/0.1 mg可讀性、7''電容彩色觸摸屏、用戶管理、靜電檢測(cè)、自動(dòng)內(nèi)部校正且配有LabX
一次即準(zhǔn)的結(jié)果
集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved協(xié)同作用，確保各項(xiàng)條件處于佳狀態(tài)，獲得正確的稱量結(jié)果。

StaticDetect
由于具備StaticDetect專li功能，XPR微量天平和分析天平可檢測(cè)樣品和容器的靜電放電。

隨時(shí)可進(jìn)行審核
將XPR分析天平連接至LabX軟件，為法規(guī)遵從和數(shù)據(jù)完整性提供全面支持。

XPR分析天平可讀性為0.005 mg至0.1 mg，量程為41 g至320 g，可滿足您全部的分析工作流程要求。
XSR分析天平的可讀性范圍為0.01 mg至0.1 mg，量程從41 g至320 g。
量程可達(dá)320 g
可讀性低至0.005 mg
小稱量值低至1 mg
符合USP的小稱量值低至10 mg
符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
質(zhì)量保證功能主動(dòng)監(jiān)控是否滿足正確稱量的所有相關(guān)條件。
創(chuàng)新型防靜電解決方案
XPR天平采用獲得專li的防靜電解決方案，可檢測(cè)和消除樣品和稱量容器上的靜電電荷。
確保更快速提供稱量結(jié)果的解決方案
SmartGrid網(wǎng)格秤盤(pán)可大限度減小氣流對(duì)于稱量單元的影響，可使天平快速達(dá)到穩(wěn)定和更快速地提供結(jié)果。
確保數(shù)據(jù)完整性
將XPR天平與LabX軟件相連接，幫助您滿足MHRA與FDA 21 CFR第11部分關(guān)于數(shù)據(jù)完整性的要求。
易于清潔
XPR天平內(nèi)的防風(fēng)罩可輕松拆除，無(wú)需使用任何工具。 所有部件均可在洗碗機(jī)中安全清洗。
智能選配件
經(jīng)過(guò)專業(yè)設(shè)計(jì)的選配件可支持您完成日常任務(wù)、優(yōu)化稱量過(guò)程效率和改進(jìn)稱量人體工程學(xué)。